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體積表面電阻率試驗設備的測試原理、性能結構是是什么?

更新時間:2025-12-26      點擊次數:29

一、測試原理(IEC 60093 三同軸法)

1. 電路模型  

   試樣與三電極系統構成“三端子"網絡:  

   - 高壓電極(HV)→ 施加直流電壓 V  

   - 測量電極(ME)→ 采集電流 I  

   - 保護電極(Guard)→ 與 ME 等電位,把表面泄漏電流旁路到地  

   這樣儀器測到的 I 僅為“試樣體內或表面規定路徑"上的真實電流,表面污穢、支架泄漏、電纜絕緣不良等共模誤差被屏蔽層強制歸零。

2. 量值推導  

   體積電阻率:ρv = kV · V / I · t kV 為體積電極常數,cm;t 為試樣厚度,cm)  

   表面電阻率:ρs = kS · V / I kS 為表面電極常數,cm)  

   儀器內部固化了常用電極的 kV、kS,用戶只需輸入厚度即可一鍵得到 ρv/ρs,無需人工換算。

3. 電化與極化抑制  

   GB/T 1410 要求在施加電壓后“電化 60 s"再讀數,以消除介質吸收電流。PLC 可按 09999 s 設定電化時間,計時結束后自動采樣,保證不同試樣數據可比。

二、整機結構與關鍵模塊

1. 一體化屏蔽箱  

   儀器主機與屏蔽箱采用共殼體設計,內膽為 1 mm 鍍鎳鋼板,形成完整的法拉第籠;箱門采用鈹銅彈片與殼體 360°咬合,高頻泄漏衰減 > 90 dB@1 MHz,保證 1017Ω 量級測量時背景噪聲 < 0.5 fA

2. 三同軸輸入子系統  

   高壓模塊:0 1 kV 可調,zui大輸出 2 mA,10 ppm/℃ 低溫漂基準,分 6 檔(10 V、50 V、100 V250 V、500 V、1 000 V),誤差 ±2 %。  

   電流測量:采用“反饋式 I-V 轉換 + 24-bit Δ-Σ ADC"多檔并聯結構,量程 1 × 10-15 A 2 × 10-3A,自動切換,基本誤差 ±1 %。  

   保護環驅動:Guard ME 之間電位差 < 100 µV,確保表面泄漏電流旁路效率 > 99.999 %

3. PLC 測控核心  

   三菱 FX3U 系列 PLC 完成:  

   電壓/電流量程繼電器陣列驅動  

   電化計時、自動采樣、平均值算法  

   溫度/濕度超限報警(040 ℃,≤ 70 %RH)  

   校準系數 EEPROM 存儲,掉電不丟失  

   觸控屏通過 RS-422 PLC 通訊,界面可中英文切換,實時顯示 V、IR、ρs、ρv、溫度、濕度及趨勢圖。

4. 校準與溯源  

   內置 10 MΩ、1 GΩ、100 GΩ、10 TΩ 四只密封氮化鉭薄膜標準電阻,可一鍵執行“零點-增益-線性"三點校準,校準數據可導出到 U 盤,實現國家二級計量站溯源。

三、性能指標與典型優勢

1. 測量范圍:1 × 104Ω → 1 × 1017Ω,覆蓋絕緣材料從“半導"到“超特高壓電纜料"全區間。  

2. 基本誤差:電阻 ±1 %,電壓 ±2 %,與 IEC 60093 1 級表要求一致。  

3. 分辨力:電流 0.1 fA,可檢測 1 × 1017 Ω 時 10 V 電壓下的 0.1 fA 信號,等效背景噪聲電阻 > 1 × 1019Ω。  

4. 重復性:對 1 × 1015 Ω PTFE 樣板,10 次測量相對標準差 < 0.3 %。  

5. 升降壓保護:測試結束自動“0 V→放電→接地"三狀態序列,防止薄膜試樣被靜電擊穿。  

6. 擴展接口:RS-485、USB-AU 盤)、RJ45(可選),支持 MODBUS-RTU,可接入 LIMS 系統。  


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